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3430-SW     动态测试机

动态测试机3430-SW测试高速IGBT/MOSFET器件的动态特性。3430-SW测试机本体按照每种测试项目连接测试站,最大可用4个并行测试(正常2个测试站)。一台电脑控制整个测试系统。
  
 
 

特点
・低的寄生电感造就完美的波形。
・快速解析波形彻底减少测试时间。
 

 Switching Time测试
I-short测试
trr测试
VCE
30~1,500 V(1V 步进)
30~1,500 V(1V 步进)30~1,500 V(1V 步进)
IC
1~300 A(1A 步进) 
1~1,000 A(1A 步进)1~300 A(1A 步进)
IC Trip
1~300 A(1A 步进) 
- 
1~300 A(1A 步进)
IC max
1~1,000 A(1A 步进) 
1~1,000 A(1A 步进)1~1,000 A(1A 步进)
VGE
±30.0 V(0.1V 步进)±30.0 V(0.1V 步进)±30.0 V(0.1V 步进)
RG
1~250Ω(1Ω 步进) 
1~250Ω(1Ω 步进)1~250Ω(1Ω 步进)
Pulse
Single/Double 
SingleDouble
T1
000.1μ~50.0 ms(0.1μs 步进)000.1~50.0μs(0.1μs 步进)000.1μ~50.0 ms(0.1μs 步进)
T2
000.1~999.9μs(0.1μs 步进)000.1~999.9μs(0.1μs 步进)
T3
000.1~999.9μs(0.1μs 步进) 
000.1~999.9μs(0.1μs 步进)
R Load
外部插入
L Load
外部插入
外部插入
Pre checkGS Short/Open/Short/LeakGS Short/Open/Short/LeakVdsf(D.U.T)/ GS Short /Open/Short/Leak(Dummy)
Post check 
LeakLeak 
Leak(Dummy) 
Test Itemtd(on)/td(off)/ton/toff/tr/tf/Eon/Eoff/IC0 SC
trr/ trr1/ trr2/ Irr/ Qrr/ Qrr1/ Qrr2/ IF/ dIF/dt/ dI(rec)M/dt 
Test Time 
230 ms
140 ms250 ms
DSOLT364(LeCroy) 
LT364(LeCroy)
 
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