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4380-IH     Strip 测试分选机

我们TESEC公司推出一款新的Strip frame测试分选机型号为4380-IH,在裸架上无单个SOIC附着矩阵结构的器件进行外部热温测试。器件测试前通过光学调准功能进行位置(x,y,z,θ)补偿,因此器件的位置精度高并且探针接触压住被测器件使得测试牢固稳定和高效。
  
 
 

■特点
・高生产能力
・高抵抗负载和高稳定推力
・通过条形码和2-D代码读出器进行批号控制
・便于器件类型变换仅用最少特殊备件更换及屏幕设置即可
・自动清理功能单元便于插座安装清理
・遵守S2/S8规则
・符合SEMI G85
 

型号
4380-IH
 适合器件
SOIC 类型
 适合Strip尺寸
少于250×70mm
 适合框架尺寸
W175~260.3mm、D40~80.3mm、H250~340mm
 测试站
多路并行
 接触方法
弹簧顶针或者特定测试针
 提供框架能力
2 pcs
 储备框架能力
3 pcs
 
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